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介电常数测试仪主要技术指标

发布时间2019-10-08        浏览次数:76

介电常数测试仪/介电常数检测仪  型号;MHY-19726

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

主要技术指标

1.频率范围及刻度误差

范围:50KHz~50MHz共分七个波段,允许误差:+2%

  1.1:50~150KHz;         1.2:150~450KHz

   1.3:450~1500KHz;       1.4:1.5~4.5MHz

   1.5:4.5~12MHz;         1.6:12~25MHz

   1.7:25~50MHz;

2.Q值测量范围及误差

范围:5~500

误差:1)当频率从5~25KHz

             量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%

2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10%

3)△Q范围:-25 ~ 0 ~ +25。

3.电感测量范围及误差:范围:0.1μH~100mH,误差:+5%+0.01μH

4.试样尺寸

圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时);

Φ25~35mm(ε=12~30时)Φ15~20mm(ε>30时)。