便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

   本仪器按照半导体材料电阻率的及标准测试方法有关规定设计。

   它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。

   为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不超过±5%，在此范围内达到标准二机的水平。

2、测试仪结构及原理

测试主机由主机板、前面板、后背板及机箱组成，数字表、测试电流换档开关、电阻率/方阻转换开关、校准/测量变换开关以及电流调节电位器均装在前面板上。后背板上只装有电源插座、电源开关、保险管及四探针连接插座。机箱底板上字装了主机板。前后面板与主机板之间的联接均采用接插件，便于拆卸维修。

术参数：

测量范围：

可测量电阻率：0.1～1999Ω·cm。

可测方块电阻： 1～19990Ω/□

        当被测材料电阻率≥1999Ω·cm数字表显示0.00。

（2）恒流源：

      输出电流：DC  0.01mA～1mA分两档

      0.1mA量程：0.01～1mA  连续可调

      1mA量程：0.1mA ～1mA连续可调

      恒流度：各档均优于±0.1%

（1）  直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μv

准确度：0.2%（±2个字）

（2）  供电电源：

AC：220V   ±10%     50/60HZ    率8W

（3）  使用环境：

相对湿度≤80%

（4）  重量、体积

重量：2.2 公斤

体积：宽210×100×深240（mm）